?VT6000系列转盘共聚焦光学显微镜擅长微纳级粗糙轮廓的检测,能够清晰地展示微小物体的图像形态细节,显示出精细的细节图像,以提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。它具有直观测量的特点,能够有效提高工作效率,更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜,能有效提高工作效率,实现更准确的操作。
CHOTEST中图仪器SuperViewW1白光干涉三维轮廓仪通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,是一款对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。
VT6000系列3d共聚焦显微镜能够清晰地展示微小物体的图像形态细节,显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点,能够有效提高工作效率,更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜,能有效提高工作效率,实现更准确的操作。
除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外,SuperViewW1白光干涉仪品牌具有的测量晶圆翘曲度功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。
自设计之初,VT6000共聚焦激光显微镜便定下了“简单好用”四字方针的目标。仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成,控制单元集成在设备主机之内,亦可采用笔记本电脑驱动,实现了“拎着走”的便携式设计。
中图白光干涉仪SuperViewW1利用光学干涉原理,能够以优于纳米级的分辨率,非接触测量样品表面形貌,广泛应用于光学,半导体,材料,精密机械等等领域,用于表面形貌纹理,微观结构分析。测量单个精细器件的过程用时2分钟以内,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。
VT6000系列激光共聚焦显微镜结合精密Z向扫描???、3D建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测,对大坡度的产品有更好的成像效果,在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。
VT6000中图共聚焦显微镜以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,在相同物镜放大的条件下,所展示的图像形态细节更清晰更微细,横向分辨率更高。能够清晰地展示微小物体的图像形态细节,显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点,能够有效提高工作效率,更加快捷准确地完成日常任务。
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