光学3d轮廓仪-快速尺寸测量仪器-在机测量系统-深圳市中图仪器股份有限公司

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  • SJ5730-100表面輪廓測量儀
    SJ5730-100表面輪廓測量儀

    SJ5700表面輪廓測量儀可測圓弧半徑、直線度、凸度、溝心距、傾斜度、垂直距離、水平距離、臺階等形狀參數(shù)。還可對各種零件表面的粗糙度進行測試;可對平面、斜面、外圓柱面、內孔表面、深槽表面、圓弧面和球面的粗糙度進行測試,并實現(xiàn)多種參數(shù)測量。

    時間:2024-05-12型號:SJ5730-100訪問量:1832
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  • SuperViewW13D光學輪廓儀器
    SuperViewW13D光學輪廓儀器

    中圖儀器3D光學輪廓儀器能夠以優(yōu)于納米級的分辨率測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、微觀幾何輪廓、平整度、曲率等,應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。

    時間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1173
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  • w1光學3D表面輪廓儀
    w1光學3D表面輪廓儀

    w1光學3D表面輪廓儀的X/Y方向標準行程為140*100mm,滿足減薄后晶圓表面大范圍多區(qū)域的粗糙度自動化檢測、鐳射槽深寬尺寸、鍍膜臺階高等微納米級別精度的測量。測量三維形貌的系統(tǒng)原理是在視場范圍內從樣品表面底部到頂部逐層掃描,獲得數(shù)百幅干涉條紋圖像,找到該過程中每一個像素點處于光強大時的位置,完成3D重建。

    時間:2024-05-12型號:訪問量:1373
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  • 光學輪廓儀W系列
    光學輪廓儀W系列

    中圖儀器光學輪廓儀W系列采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高。能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時間:2024-05-12型號:訪問量:1106
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  • SuperView W1光學檢測設備輪廓儀
    SuperView W1光學檢測設備輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW1光學檢測設備輪廓儀主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓尺寸,此外具有測量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應變測量以及表面形貌測量??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時間:2024-05-12型號:SuperView W1訪問量:1099
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  • SuperViewW系列高精密光學輪廓儀
    SuperViewW系列高精密光學輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW系列高精密光學輪廓儀由照明光源系統(tǒng),光學成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構成。以白光干涉技術為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù),是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

    時間:2024-05-12型號:SuperViewW系列訪問量:1129
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  • SuperView W1半導體光學輪廓測量儀器
    SuperView W1半導體光學輪廓測量儀器

    SuperViewW1半導體光學輪廓測量儀器用于表面形貌紋理,微觀結構分析,用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù),廣泛應用于光學,半導體,材料,精密機械等領域。是以白光干涉技術為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

    時間:2024-05-12型號:SuperView W1訪問量:1099
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  • SJ5760-PR輪廓尺寸測量儀器
    SJ5760-PR輪廓尺寸測量儀器

    SJ5760-PR輪廓尺寸測量儀器測量精度高,量程大,測量速度快,智能化應用與檢定軟件相結合,保護測針和測量系統(tǒng),儀器操作靈活自如,可以大大提高測量工作效率。是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的測量儀器。

    時間:2024-05-12型號:SJ5760-PR訪問量:1139
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